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　　），旨在通过提供先进的原子技术加速突破性发现在一个工具中进行成像和分析。

　　生产合适的材料并做出正确的设计选择对于解决诸如开发更安全和更持久的电池，创建更轻的材料以提高能效以及构建更快，更高容量的计算机处理器或存储设备等挑战至关重要。Spectra™非常适合需要在原子水平上表征各种材料的学术或工业实验室的研究人员w66利兰国际，。它允许他们制造轻质材料，如先进钢，铝合金或塑料，用于开发更安全或更省油的运输。Spectra还支持新半导体结构和材料的研究，为未来的高性能电子器件提供必要的构建模块。

　　赛默飞世尔材料和结构分析总裁Mike Shafer表示：“赛默飞世尔科技S/TEM在高端透射电子显微镜领域拥有悠久的领导地位，而Spectra通过在单一工具中提供最佳的商业原子级S/TEM成像和分析，继续朝这个方向发展”。此外，他还表示：“Spectra为最广泛的应用提供了前所未有的易用性，同时解决了当今最具挑战性的问题，包括对光束敏感和日益复杂的材料进行分析以及缩小半导体器件的成像。”

　　Spectra包括革命性的检测功能，使科学家和工程师能够获得以前难以获得的原子级数据，以满足更广泛的应用需求。该平台可以获得极其光束敏感的材料和半导体结构的详细图像，包括金属有机框架w66利兰国际，，沸石w66利兰国际，和聚合物，如果暴w66利兰国际，露在电子束中太长时间或在错误的电压下可能会损坏或破坏。它还满足了使用EDX（能量分散X射线）或EELS（电子能量损失光谱）等多种方式对大量原子级化学分析的不断增长的需求w66利兰国际，。

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